Aktuelle Berichte, Erklärungen und verbundene Technologiethemen.
Der Artikel erläutert, wie speziell entwickelte Prozessmonitore, unterstützt durch Analysen unter Berücksichtigung des Schaltungsdesigns, von der Erfassung von Messabweichungen zur Ableitung der Faktoren übergehen können, die hinter Veränderungen im Verhalten des Siliziums stehen. Der Text stellt die Global Variation Process Detector als skalierbare Alternative zur Abhängigkeit von einer einzigen Frequenzmessung vor.