Следите за последними материалами, объяснениями и связанными технологическими историями.
Технический материал Onto Innovation показывает, что измерение толщины пленок SiCr не выявляет всех различий в структуре и свойствах, влияющих на работу резисторов в BCD-чипах. В нем рассматривается использование технологии пикосекундной ультразвуковой диагностики с одновременным измерением отражательной способности для отслеживания изменений осаждения, особенно связанных с потоком газа N₂.