En son haberleri, açıklamaları ve bağlantılı teknoloji hikâyelerini takip edin.
Onto Innovation tarafından hazırlanan teknik bir materyal, SiCr filmlerinin kalınlığını ölçmenin BCD çiplerindeki dirençlerin performansını etkileyen tüm yapı ve özellik farklılıklarını ortaya çıkarmadığını açıklıyor. Materyal, özellikle N₂ gazı akışıyla ilişkili birikim değişimlerini izlemek için pikosaniye ultrason teknolojisinin eş zamanlı reflektivite ölçümüyle birlikte kullanılmasını sunuyor.