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1キロワットレベルでの動作は単一の試験状態を意味しない。負荷、発熱箇所、稼働時間、電力供給経路によってリスクは変化する。Semiconductor Engineeringの分析では、検証は電気的故障の検出だけでなく、チップ、パッケージ、試験システム、フィールドデータまで含める必要があるとされている。