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Operar no nível de 1 quilowatt não representa uma única condição de teste, pois os riscos variam conforme a carga, a localização do calor, a duração da operação e o caminho de fornecimento de energia. Uma análise da Semiconductor Engineering considera que a verificação deve incluir o chip, o encapsulamento, o sistema de teste e os dados de campo, e não apenas a detecção de falhas elétricas.