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1킬로와트 수준에서의 동작은 하나의 시험 사례를 의미하지 않는다. 부하, 열의 위치, 작동 시간, 전력 전달 경로에 따라 위험이 달라지기 때문이다. Semiconductor Engineering의 분석에 따르면 검증은 전기적 결함 발견에만 국한되지 않고 칩, 패키지, 테스트 시스템 및 현장 데이터를 포함해야 한다.