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Operar a un nivel de 1 kilovatio no representa un único caso de prueba, ya que los riesgos cambian según la carga, la ubicación del calor, la duración de la operación y la ruta de suministro de energía. El análisis de Semiconductor Engineering sostiene que la verificación debe abarcar el chip, el paquete, el sistema de prueba y los datos de campo, no solo la detección de fallos eléctricos.