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Der Betrieb auf dem Niveau von 1 Kilowatt stellt keinen einzelnen Testfall dar, da sich die Risiken je nach Last, Wärmeposition, Betriebsdauer und Energieübertragungspfad verändern. Eine Analyse von Semiconductor Engineering zufolge muss die Verifizierung den Chip, das Gehäuse, das Testsystem und Felddaten umfassen, nicht nur die Erkennung elektrischer Fehler.