En son haberleri, açıklamaları ve bağlantılı teknoloji hikâyelerini takip edin.
2 nanometrenin altındaki üretim düğümlerine geçiş; test, ölçüm, inceleme ve üretim rollerinin bütünleşmesine, çiplerin sapmalara ve kusurlara karşı hassasiyetinin artmasına yol açıyor. Semiconductor Engineering tarafından yapılan analiz, çipin tasarımdan işletime kadar tüm yaşam döngüsü boyunca verilerin yönetilmesinin verimi ve güvenilirliği korumak için bir koşul hâline geldiğine işaret ediyor.