一种将模拟功能、数字控制和电源管理集成在单个芯片上的技术，用于汽车、医疗产品和消费电子产品等应用。
Onto Innovation的一篇技术资料指出，测量SiCr薄膜厚度无法揭示所有会影响BCD芯片电阻器性能的结构和特性差异。该资料介绍了将皮秒超声波技术与同步反射率测量相结合的方法，用于监测沉积变化，尤其是与N₂气体流量相关的变化。