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La transición a nodos de fabricación inferiores a 2 nanómetros está integrando las funciones de prueba, metrología, inspección y fabricación, mientras aumenta la sensibilidad de los chips a las desviaciones y los defectos. Un análisis de Semiconductor Engineering señala que gestionar los datos durante todo el ciclo de vida del chip, desde el diseño hasta la operación, se ha convertido en un requisito para mantener el rendimiento y la fiabilidad.