Следите за последними материалами, объяснениями и связанными технологическими историями.
Переход к техпроцессам менее 2 нм приводит к объединению функций тестирования, метрологии, контроля и производства, поскольку чувствительность чипов к отклонениям и дефектам возрастает. Анализ Semiconductor Engineering указывает, что управление данными на протяжении жизненного цикла чипа — от проектирования до эксплуатации — стало необходимым условием сохранения выхода годных и надежности.